A

绝对零度	是指-273.16° C、-459.69° F 或 0° K温度，普遍认为在该温度下分子运动消失，物体不会辐射热能。
准确度	辐射测温仪指示的温度与已知参考源温度之间的一组测量值的最大偏差，包括参考温度源的不确定度。准确度可以有多种表示方法，包括温度、温度读数的百分比，或仪器的满量程温度百分比。
环境降额	仪器由于其工作环境温度不同于其被校准时的环境温度而导致其准确度变差或下降。另请参见“温度系数”。
工作环境温度	仪器工作的设计环境温度范围。
环境温度	仪器的温度。也可以指造成本底辐射的温度。请参见“本底辐射”。
环境温度补偿(TAMB)	请参见“反射能量补偿”。
ASTM	美国试验与材料协会。
ASTM E 1256	ASTM E1256 - 88 辐射测温仪的标准测试法(单波段型)。我们依据这一标准来测试和校准雷泰产品的准确度、可重复性、分辨率、目标大小、响应时间、预热时间和长期漂移。
大气窗口	大气对辐射能量的传输产生的影响最小时的光谱带。光谱带包括 0.4 至 1.8、2 至 2.5、3 至 5 及 8 至 14 微米。

B

本底辐射	从源而非预定目标发出而进入设备的辐射。由于目标反射或仪器内散射，本底辐射可能进入仪器。
黑体	一种理想的热辐射器，可吸收所有入射辐射，其辐射量由普朗克辐射定律确定。

C

校准程序	一种执行程序，用于确定并设置仪器性能影响参数，确保其设计功能满足规定限制要求。
校准源
卡诺循环	一种理想的热源，能够以可实现的最大效率将热能转换为机械功。
摄氏温标或C	一种温标，其中摄氏 (TC) 温度与开氏温标 (TK) 温度的关系式为：TC = TK -273.15。水在标准大气压下的凝固点几乎接近于 0?C；相对应的沸点几乎接近于 100?C。以前称之为摄氏温标。
色温	黑体辐射能量的光谱分布与表面辐射能量的光谱分布相同时黑体的温度。
彩色体或非灰体	一种热辐射源，其发射率视波长而定，并非恒定值。
比较高温测量法	辐射测温法，校准源的温度不断变化，直至从校准源接收到的辐射与从目标接收到的辐射相同，以此确定目标的温度。
电流环	利用一对电线将信号作为电流传输的一种通信形式。4 至 20 mA 电平通常分别用于表示最小和最大信号量。有时，对于数字应用领域来说，毫安电流的不同幅值用于表示逻辑 1 和 0。电流环的特性通常取决于与环路相连的设备的最大阻抗。

D

D:S	光学分辨率的表示形式，是指距光点的距离除以光点的直径所得的比率。
死区	Temperature band (?) about the set point, wherein an alarm output or relay can not change state, thus providing hysteresis.
探测器	是一种变送器，其产生的电压和电流与其接受电磁能量成正比。另请参见热电堆、MCT、热电冷却、热电和硒化铅和硅探测器。
绝缘耐压(绝缘击穿电压)	不使用压电传导材料时电绝缘材料可承受的最大电压。
数字数据总线	连接多台数字数据发射器和接收机的两条或多条电导线。
数字图像处理	将图像转换为数字形式，并更改图像加以增强或预处理，供计算机或人眼分析。例如红外图像或温谱图，可能包括温标、现场温度测量值、热曲线、图像增加、减少、平均、过滤和存储。
数字输出间隔	含温度和系统状态信息的数字数据包传输的时间间隔。
DIN德国标准化协会	德国许多仪器产品标准的制定机构。
漂移	并非由设备外部影响造成的仪器指标在一段时间内的变化。

E

EMI/RFI	电磁干扰/射频干扰，这些会对电子设备性能造成影响。
发射率	在特定波长下，物体在规定温度下辐射的红外能量与黑体在该温度下辐射的红外能量之比。黑体的发射率统一为全波长。
环保等级	一种通常由机构和管理机构规定的等级，用于表示仪器能够可靠工作时所处环境的等级。
外部复位(触发)	通过外部复位输入信号将一台仪器初始化为其上电时的状态，包括信号调节功能（峰值保持、谷值保持、采样保持、平均、单路 RS232等)。

F

华氏温标或F	一种温标，在标准大气压力下，水的凝固点为 32?F，而蒸发温度为 212?F。从摄氏度转换的公式为 F = (C x 1.8) + 32。
失效保护工作	一种相当远的测量距离(通常是焦点距离的 10 倍以上)，仪器的光点尺寸变化与距仪器的距离直接成正比，而视场则恒定不变。
远场	一种相当远的测量距离(通常是焦点距离的 10 倍以上)，仪器的光点尺寸变化与距仪器的距离直接成正比，而视场则恒定不变。
视场(FOV)	通过光学或红外仪器观测的区域或立体角度。通常通过给出仪器的光点直径和距离光点的距离来表示。还可表示为焦点处光点的角度大小。请参见光学或红外分辨率。
焦点或焦距	在仪器内将目标聚焦到探测器上所处距仪器的点或距离。焦点是光学或红外分辨率最大的地点或距离。
满刻度准确度	按百分比表示仪器最大可能读数的温度测量准确度。

G

灰体	一种辐射源，其发射率小于 1 但很恒定，因此，与波长无关。

I

IEC国际电工委员会	在欧洲共同体间协调并制定相关标准的一家欧洲组织。
IEEE-488	一种由惠普公司制定并由 IEEE 采用，使可编程仪器之间实现数字互连的标准。它使用 16 位总线，最多可实现 15 台仪器互连。该标准包括硬件和协议选项。它还称为“惠普接口总线 (HPIB)”或“惠普通用接口总线 (HPIB)”，又称为“通用接口总线 (GPIB)”。目前的标准为 ANSI/IEEE-4881-1987。
IFOV (瞬时视场)	瞬时视场是取决于探测器大小和镜头的仪器成像(视场)角度分辨率。对于点距仪器来说，瞬时视场 (IFOV) 和视场 (FOV) 都是一样的。
图像处理	将图像转换为数字形式，并进一步增强图像加以预处理，供计算机或视觉分析。例如，红外图像或温谱图，就可以包括温标、现场温度测量值和热曲线以及图像增加、减少、平均、过滤和存储。
锑化铟(InSb)	一种用于制造光子探测器的物质。光子探测器能够感应 2.0 至 5.5 ?m 光谱区，在红外扫描仪和成像仪中都得到了应用。这类探测器需要低温冷却。
红外或光学过滤器	请参见“滤谱器”或“中性密度滤光镜。
红外辐射	(0.75 至 1000 ?m 电磁波频谱分量以内的(红外)辐射。
红外测温仪	一种通过探测并量化目标中发出的红外辐射来确定目标温度的仪器。类型包括总强度、宽带、窄带和多种波长。
绝缘电阻	一种材料阻止电流流动所具有的特性，单位兆欧 (M?)，表达式为外加电动势与之所得电流量之比。
互换性	在不需要重新校准系统的情况下将头传感器与同一类型的另外一个头传感器进行更换的能力(又称为通用电子器件)。有些监测器支持可以互换不同类型的头传感器。
本质安全	通过将电能限制到在仪器正常工作期间不足以点燃爆炸气体环境的水平来预防危险区域发生爆炸的标准。
IP指派	依据“英国标准 4752”与保护箱有关的本质安全保护等级。保护类型由两个数字定义，第一个数字表示可达性，第二个数字表示环境保护。两个数字的前面为字母 IP。
隔离输入、输出	输入、输出和供电线路采用电气绝缘或者互相供电，由此若这些线路发生任意接地，都不会影响仪器性能，比如产生接地环路或者短路内部电阻。
等温线	表面(或图表)上由相等或恒定温度点组成的一条连续线段(不一定是直线或平滑线)。

J

JIS日本工业标准

制定确定或确认红外温度计标准的一家技术主管机构。

K

开尔文或K

与目标内部热能直接相关的温标。正式来说，温标是两个蓄水池的温度之比等于以卡诺循环运行的热源从其中一个蓄水池吸收的热量与热源释放到另一个蓄水池的 热量之比。按照这种测定标准，水的三态点温度定义为 273.16?K。摄氏度转换公式为：K=C+273.16。

L

硒化铅(PbSe)

一种用于制造光子探测器的物质。光子探测器能够感应 3 至 5 ?m 光谱带。这类探测器需要热电冷却，在红外温度计、扫描仪和成像仪中都得到了应用。

M

最大电流	描述可以由带环路阻抗毫安输出的仪器驱动的负载大小。例如，500 欧姆最大环路阻抗意味着仪器可以将 10 伏电压、20 毫安电流输入该负载。
MCT(蹄镉汞)或HgCdTe	一种用于制造光子探测器的三元合金材料。光子探测器能够感应 3-5?m 和 8-14?m 光谱区，并且在 3-5 ?m 区域需要热电冷却，在 8-14?m 区域需要低温冷却。
最小光点尺寸	仪器可符合其性能规格的最小目标直径。

N

NEMA	全国电气制造商协会。它的工作范围包括制定美国关于制造保护箱的标准，与 IEC IP 类似。
NET	请参见 NETD。
NETD(或NE?T)	噪声等效温差，也就是说，黑体目标充满辐射仪视场的温度变化， 导致等于仪器均方根噪声的辐射仪信号发生变化。
中性密度滤光镜	一种光学或红外滤光镜，其传输恒定持续且并不属于一种功能或波长。
NIST溯源性	依据且按照 NIST (美国国家标准与技术研究院)可溯源标准校准。NIST 可溯源性是确保参考标准保持有效且其校准保持通用的一种方法。

O

光学或红外分辨率	目标距离与圆圈(或光点)直径之比，为此，温度计接收的能量是仪器在相同温度下观测校准源时收集的总能量的特定占比。目标距离一般是仪器的焦点距离。能量占比一般为 90 至 95%。
光学高温仪	通过比较一个温度测量达到标准化发光源的源(通常比较人眼)来确定之前源的温度的一种系统。
输出阻抗	描述任何与温度计相连的设备所遇到的温度计阻抗。为取得准确读数，与温度计相连设备的输入阻抗必须远远大于温度计的输出阻抗。

P

峰值保持	仪器在显示模式启用的持续时间内指示的最大温度测量输出。
光电探测器或量子检测器	一种探测器，其中能量的光子或量子直接与探测器相互作用产生信号。
高温仪	一类广泛应用的温度测量设备，原来设计测量高温，但是有些现已应用到任何温度范围中。包括辐射高温仪、热电偶、电阻测温仪和热敏电阻。
热电检测器	一种热探测器，它具有通过探测器温度变化产生电信号的热电效应所生成的信号。

R

辐射温度	黑体辐射率等于特定波长或波长带目标的辐射率时黑体的温度。
辐射能量	目标因其温度而发出的电磁能量。
辐射测温仪	用于通过确定目标发出的电磁辐射量来测量目标温度的一种设备。另外，还是通过校准指示黑体温度的辐射仪。
兰氏温标或R	相对于华氏温度的绝度温标，其表达式等同于开氏温标对摄氏温标。R = 1.8 x K，也可以是 R = F + 459.67。
参考结或冷结	参考热电偶结必须是已知数，以便推导出其他结或热电偶测量结的温度。
反射率	从表面反射的辐射能量与表面入射的辐射能量之比。
反射能量补偿	用于补偿从仪器目标上反射掉的本底红外能量来实现更高精确度的变量。若已知背景温度，那么就可以纠正仪器读数。
相对湿度	实际空气蒸汽压力与饱和蒸汽压力(缩写为 RH)的无穷小量之比。按百分比表示相对湿度为 RH 与 100 之乘积。例如，若 RH 为 0.30，那么相对湿度按百分比表示为 30%。
可重复性	一台仪器在相同环境和目标条件下经过连续测量对相同目标给出相同读数的程度。ASTM 标准 E 1256 对其的定义为在仪器量程中间测量温度 12 次所得到的采样标准偏差。一般表示为温差，满量程值占比，或者两者皆有。
分辨率	请参见“温度分辨率”、“光学分辨率”或“空间分辨率”。
响应时间	仪器的输出受影响于目标温度等同仪器可测量最大温度过程中的瞬时变化时，输出变化到最终值 95% 的时间(依据 ASTM E 1256)。软件在处理器内部计算时所需要的平均时间，也包含在这项雷泰产品规格中。
RS-232	建议标准 (RS) 232 是由主管数据处理和数据通信设备间串行通信接口的电子工业协会 (EIA) 制定的一种标准，它还广泛用于将微处理器连接周边外设。[参考 1] 目前的版本是 EIA-RS-232-D，定义运用串行二进制数据交换的数据终端设备 (DTE) 和数据通信设备 (DCE) 之间的接口。此标准未定义二进制流的协议或格式。标准包括三个部分：电气特性、接口机械特性和交换电路的功能说明。等同的国际标准有“国际电报电话咨询委 员会 (CCITT) V.24”。
RS-422	一种由电子工业协会 (EIA) 制定的建议标准，定义了一种平衡接口，而且还扩展了 RS-423，将数据传输率增加至 10 Mbps。
RS-423	一种由电子工业协会 (EIA) 制定的建议标准，定义了一种非平衡接口，而且还扩展了 RS-232，并提供了多种改进，包括增加连接电缆长度、增加数据传输率和在线路上使用多个接收机。
RS-485	一种由电子工业协会 (EIA) 制定的建议标准，改进了 RS-422，可以在线路上允许增加接收机和发射器的数量。
RTD电阻温度设备	一种电阻随温度变化的接触式测量设备。

S

采样保持	从目标获取的温度，显示或保持一段设定的时间，或者直到下一次外部复位发生为止。
散射	目标反射以外的从背景到达仪器探测头的辐射能量。
设置点	测量值通过时会触发时间和/或导致继电器改变状态的过程或测量变量设置。
冲击测试	目标或测试仪器承受能够使机械振动产生共振的冲力的一种冲击测试。
信号处理	为增强温度数据而对数据进行的处理。例如，信号处理功能包括“峰值保持”、“谷值保持”和“平均”。
硅(Si)探测器	测量高温过程中使用的一种光子探测器。
源尺寸效应	能量收集和温度读取时仪器随着超出仪器视场范围的目标尺寸的增加而增加的效应。它由两种现象造成的：剩余能量大于用于定义位置的百分比和辐射进入仪器致 使仪器视场外面的能量也进入仪器时发生散射。若存在这种效应，意味着仪器准确度可能受到目标影响，目标要么太大要么太小。该效应又称为“目标尺寸效应”。 [ASTM STP 895]
斜率	双色辐射仪的两个光谱带的发生率之比。短波长带的发射率除以长波长带的发生率。斜率可以大于、等于或小于 1。斜率说明在物质中发射率随波长变化。
滤谱器	用于通过光谱限制辐射能量到达仪器探测器的传输过程的一种光学或红外元器件。
光谱响应	红外温度计感应的波长区域。
光点	进行温度确定的目标相关区域的直径。光点由目标处的圆孔来确定。通过圆孔，仪器通常可以收集目标红外能量的 90%。另请参见“源尺寸效应”。
停滞或滞后	目标从视场移除后仪器信号持续超过响应时间的一种饱和效应。可能是因为将传感器暴露于高温目标的时间过长。效应表现为对传感器所需响应时间的增加可恢复至正确读数的 5% 范围以内。
储存温度	仪器可在非工作“Range”(范围)模式中存放而且在工作时按照规格执行的环境温度范围。

T

目标	确定温度的目标。
目标尺寸效应	请参见“源尺寸效应”。
Teflon®	Teflon® 是 DuPont 的品牌名和注册商标。
温度	目标热接触另一个目标时确定热量流向的目标属性(例如，热量从高温区流向低温区)。
温度系数	仪器随其校准环境温度的变化而发生的准确度变化。通常表现为每次环境温度变化，精确度均按百分比变化(或其他程度的误差)。对于环境状况发生迅速变化，请参见“热冲击”。
温度分辨率	给出可用的输出和/或指标变化的目标温度最低模拟或实际变化。
瞬时漂移	请参见“温度系数”。
热探测器	从探测器将外来辐射的光子转换为热量，然后再转化为信号的探测器。热探测器包括热电、辐射热和热电堆类型。
热漂移	请参见“温度系数”。
热辐射	因自身温度而发出电磁能量的目标。
热冲击	因仪器环境温度发生迅速变化而造成的误差。表示为最大误差和信号恢复到规定规格所需要的时间。
热敏电阻	电阻率随温度变化的半导体材料。
热电偶	用于通过珀尔帖效应测量温度的两种不同金属的两个结，由此，通过电流流过两种不同金属的一个结来释放或吸收热量，使电势按结温度差比例在这两个结之间形 成。有多种类型，包括：J (Fe /康铜) K (镍铬/镍铝) T (Cu /康铜) E (镍铬/康铜) R (Pt / Pt - 30% Rh) S (Pt / Pt -10% Rh) B (Pt - 6% Rh / Pt - 30% Rh) G (W / W - 26% Re) C (W - 5% Re / W - 26% Re) D (W - 3% Re / W - 25% Re)
热电(TE)冷却	基于珀尔帖效应的冷却方法。电流流过两种不同金属的两个结。一个结变热，而另一结变冷。来自热结的热量发散到环境中，而来自另一个结的冷度用于冷却。
温谱图	通过扫描目标或现场生成的热辐射照片。
热电堆	大量串联的相似热电偶，经过排列使交替结处于参考温度和测量温度，从而增加参考结和测量结间规定温度差的输出。
时间常数	传感器件响应达到目标等级变化 63.2% 的所需时间。
传递标准	一种使用美国 NIST 可溯源校准(使用适用于国际客户的其他公认标准)的高精确辐射测量仪，用于校准辐射参考源。
透射率	目标外来红外辐射能量与离开目标的红外辐射能量之比。
跳闸点	物质的气态、液态和固态可以平衡存在的温度与压力状况。对于大气压下的水，这通常称为水的凝固点。
比色测温法	一种测量两种不同波长带(色彩)以确定温度的技术。已经表明，双色技术能够有效地纠正因粉尘颗粒造成目标局部堵塞而产生的误差。

V

谷值保持	仪器在显示模式启用的持续时间内指示的最小温度测量输出。
验证	确认设计性能达到所有规定的规格。
	目标中感应到振荡或重复运动的一种测试(按照 MIL-STD-810 或 IEC 68-2-6)，它指定为以 g?s 和功率谱密度 (PSD) 为单位的加速度，之后测试仪器是否正确运行。

W

预热时间	仪器开启后能够按照指定重现性工作所需要的时间。

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